365 Каталог MAHR 2011 Измерительный инструмент и приборы для линейно-угловых измерений Стр.15-17

Каталог MAHR 2011 Измерительный инструмент и приборы Стр. 15-17 0365 FRA Lab2u

MarSurf. Appareils et systemes de mesure des etats de surface MarSurf XC 20 La nouvelle generation de mesure des contours Description MarSurf XC 20 est considere comme le nec plus ultra en matiere d'analyse des contours. Ce qui a debute il y a 30 ans environ avec le Contourographe - compose d'une unite d'avance et d'un enregistreur x y - est devenu au fil du temps un systeme de mesure des contours de premiere qualite equipe d'une technologie de pointe. La configuration des appareils parfaitement coordonnee repond aux normes les plus performantes. Le logiciel de mesure et d'analyse tres fiable permet de commander et de positionner l'unite d'avance et le statif de mesure. Caracteristiques MarSurf XC 20 met a votre disposition des fonctions supplementaires qui s'ajoutent a celles de l'appareil de base XC 2 Affichage possible d'indications de deroulement Des elements de commande interactifs supportent les analyses et les deroulements automatiques Mesure des contours superieurs et inferieurs au moyen de palpeurs a double pointe; ces contours peuvent etre analyses les uns par rapport aux autres Constitution de segments de profil destines a l'analyse avec des parametres specifiques par segment Possibilite de mesure fractionnee pour echapper des obstacles comme des alesages ou des flancs abrupts Prise de l'mport de fichiers dxf pour la comparaison de profil theorique reel Unite d'avance PCV 200 a fixation brevetee du bras de palpage pour un remplacement reproductible du bras sans outil Flexibilite du poste de mesure grace au systeme brevete de palpage La force de mesure reglable est aussi un gage de cette flexibilite Creation artificielle de profils nominaux a partir de droites et d'arcs de cercle Comparaison des profils theoriques et reels tres simple. Selection possible de tolerances differentes dans un seul et meme profil via la designation Versions La combinaison du logiciel MarSurf XC 20 avec le systeme d'avance et de palpage de haute precision LD 120 et les statifs de mesure ST 500 ou ST 750 permet d'obtenir une resolution relevant du nanometre ; le contour et la rugosite sont definis dans le cadre d'une mesure unique. Les fonctions supplementaires comme l'export de donnees vers QS-STAT ou l'analyse selon l'ondulation dominante sont disponibles en option. code web 2736