Профилометры Mitutoyo Приборы для измерения шероховатости поверхности Краткое руководство по высокоточным измерительным приборам ISO 1302 2002 Метод обозна

Профилометры Mitutoyo Приборы для измерения шероховатости поверхности Краткое руководство по высокоточным измерительным приборам ISO 1302 2002 Метод обозначения структуры поверхности ISO 4287 1997 ГХИ - Структура поверхности Профильный метод - Термины, определения и параметры структуры поверхности ISO 4288 1996 ГХИ - Структура поверхности Профильный метод - Правила и процедуры оценки структуры поверхности ISO 3274 1996 ГХИ - Структура поверхности Профильный метод - Номинальные характеристики контактных (щуповых) приборов Номинальные характеристики контактных (щуповых) приборов ISO 3274 1996 Датчик Ввод/Вывод Ввод/Вывод Поверхность детали i - 5 Щуп Блок передачи сигнала оси Z V профиль 1 1 Оценка параметров Преобразователь Усилитель - AD конвертер /Профиль квантован- змерения/ Удержание номинальной структуры Фильтр Первичный профиль 1 1 Reference 1 Измеритель- контур Руководство + применению 1 line у 7 А Устройство подачи Измерительный контур Внешний вид Устройство Колонна подачи Форма Типичная фоРадиус кончи вводной блок цупа ма наконе а щупа rt Датчик Щуп А ]Г1 Деталь 1г чника щупа - коническая со сферическим кончиком. Г о'1'т/ p = 2 мкм, 5 мкм или 10 мкм 7 =- Угол конуса 60°, 90° 1 Оснастка 7 В типичных измерительных приборах шероховатости поверхности, угол конуса щупа 60°, если не указано иное. Статическое измерительное усилие Номинальный радиус изгиба наконечника щупа мкм Статическое измер. усилие в среднем положении щупа мН Погрешность вариаций статического измер. усилия мН/мкм 2 0.75 0.035 5 0.75 (4.0) примечание 1 0.2 10 Метрологическая характеристика фазокорректирующих фильтров1 1 562 19 6 Профильный фильтр является фазокорректирующим фильтром без задержки фазы (причина искажения профиля зависит от длины волны). Весовая функция фазокорректирующего фильтра показывает нормальное (Гауссовское) распространение, в котором передача амплитуды - 50% при критической длине волны. Алгоритм обработки данных и) Профиль поверхности на фактической поверхности Измеренны профиль Определение Профиль, полученный от пересечения фактической поверхности и перпендику- Измерение лярной к ней плоскости. 1 Определение Траектория движения щупа, который исследует поверхность рабочей детали. ]' -AD конвертирование Оцифрованн профиль "Ъй Определение Данные полученные после оцифровки измеренного профиля. Пропускает ненужную геометрию поверхности ,такую как отклонение от плоскостности, искривление цилин-дричности при помощи метода наименьших к Зависимость между величиной отсечки и радиусом наконечника щупа В нижеследующей таблице показана зависимость между величиной отсечки профиля шероховатости Ac, радиусом наконечника щупа rtip и критическим соотношением Ac/As. Ac As мкм Ac/As Макс. rtip мкм Максимальная длина мм 0.08 2.5 30 0.5 0.25 2.5 100 0.5 0.8 2.5 300 Прим. 1 0.5 2.5 8 300 Прим. 2 1.5 8 25 300 10 Прим. 2 5 Примечание Для поверхности с коэффициентом шероховатости 1 а>0.5мкм или й>3мкм, при измерении обычно не бывает значительной погрешности даже при rtip= 5мкм. Примечание 2 Если величина отсечки As равна 2.5мкм или 8мкм, ослабление сигнала ввиду эффекта механической фильтрации щупа с рекомендованным радиусом наконечника оказывается за пределами полосы профиля шероховатости. Поэтому небольшая погрешность в радиусе или форме наконечника щупа не влияет на значения параметров, вычисленных при измерениях. Если требуется специфический коэффициент отсечки, этот коэффициент Профили поверхности ISO 4287 1997 Первичный профиль Профиль, полученный из измеренного профиля с применением фильтра низких частот с величиной отсечки As Профиль шероховатости Профиль, полученный из первичного профиля путем подавления компонентов более длинных волн с помощью фильтра верхних частот с величиной отсечки Ac. Определение параметров ISO 287 97 Параметры амплитуды (выступы и впадины) Максимальная высота выступа первичного профиля Pp Максимальная высота выступа профиля шероховатости Rp Максимальная высота выступа профиля волнистости Wp Максимальная высота выступа профиля Zp в рамках базовой длины Максимальная глубина впадины первичного профиля Pv Максимальная глубина впадины профиля шероховатости Rv Максимальная глубина впадины профиля волнистости Wv Наибольшая глубина впадиныпрофиля Zv в рамках базовой длины Максимальная высота первичного профиля Pz Максимальная высота профиля шероховатости Rz Максимальная высота профиля волнистости Wz Суммарная высота наибольшей высоты выступа Zp и наибольшая глубина впадины профиля Zv в рамках базовой длины АВ В предыдущих стандартах JIS и ISO 4287-1 1984, обозначение Rz использовалось для указания на отклонения по десяти точкам Следует с осторожностью принимать полученные результаты, так как различия между действующими и предыдущими стандартами не всегда незначительны. (Обязательно проверяйте, к действующим или предыдущим стандартам относятся инструкции чертежа.) Средняя высота элементов первичного профиля Pc Средняя высота элементов профиля шероховатости Rc Средняя высота элементов профиля волнистости Wc Среднее значение высот элемента профиля Zt в рамках Фильтр низких частот величины отсечки As Перви профиль Фильтр высоких частот величины отсечки Ас X Профиль шероховатости Параметры профиля шероховатости Параметры первичного профиля [ Полосной фильтр с прохождением длин I [волн между величинами отсечек Ас и Af I X Профиль волнистости Параметры профиля волнистости Профиль волнистости Профиль, полученный при применении полосного фильтра к первичному профилю для устранения более длинных волн выше Af и более коротких волн ниже Ac. Общая высота первичного профиля Pt Общая высота профиля шероховатости Rt Общая высота профиля волнистости Wt Суммарная высота наибольшего выступа профиля Zp и наибольшей глубины впадины профиля Zv в рамках длины оценки Измеряемая длина VA Mitutoyo 538 Примечание 1 Максимальное значение статического измерительного усилия в среднем положении щупа - 4.0 мН для специальной конструкции датчика, включая сменные щупы. Базовая