Обзор характеристик приборов MarSurf серий PS1 и M-300 Параметры Щупы Механизм подачи Длины трасс ощупывания Разрешение профиля Языки Разм

Обзор характеристик приборов MarSurf серий PS1 и M-300 Параметры Щупы Механизм подачи Длины трасс ощупывания Разрешение профиля Языки Размеры (Д x Ш x В) Вес Электропитание MarSurf PS1 Ra, Rq, Rz (Ry (JIS), Rz), Rz (JIS), Rmax, Rp, Rp (ASME), Rpm, Rsk (ASME), Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, (24, с границами допусков), Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (tp (JIS, ASME) entspr. Rmr), RSm, R, Ar, Rx индуктивный опорный щуп, острие 2 мкм, измерительное усилие прим. 0,7 мН Lt согласно ISO / JIS 1,75 мм, 5,6 мм, 17,5 мм согласно MOTIV 1 мм, 2 мм, 4 мм, 8 мм, 12 мм, 16 мм 8 нм / 16 нм / 32 нм (автоматическое переключение) 13 языков 3 азиатских языка 140 x 50 x 70 мм 400 гр первичное 90 В до 264 В вторичное 9 В MarSurf M 300 свыше 35 параметров шероховатости MarSurf M 300 C свыше 35 параметров шероховатости PHT 6-350 серия PHT-щупов (опорная система) RD 18 (стандартный механизм подачи) RD 18 C 1,75 / 5,6 / 17,5 мм 1,75 / 5,6 / 17,5 мм с механизмом подачи RD 18 8 нм / 16 нм / 32 нм (автоматическое переключение) 15 языков 3 азиатских языка прим. 190 x 170 x 75 мм 1,3 кг первичное 90 В до 264 В вторичное 9 В 8 нм / 16 нм / 32 нм 15 языков 3 азиатских языка прим. 190 x 170 x 75 мм 1,3 кг первичное 90 В до 264 В вторичное 9 В MarSurf. Обзор характеристик MarSurf M 400 Параметры Щупы Механизм подачи Длины трасс ощупывания Диапазон измерения Разрешение (Z) Измерительное усилие (по Z) Размеры (Д x Ш x В) Вес Электропитание MarSurf M 400 первичные параметры, шероховатость, волнистость, P-параметры щуповая система BFW 250 SD 26 0,56 мм, 1,75 мм, 5,6 мм, 17,5 мм, автоматически, свободный ввод согласно MOTIF 1 мм, 4 мм, 8 мм, 12 мм, 16 мм ±250 мкм (±500 мкм при двойной длине консоли) диапазон измерения ±250 мкм =8 нм, ±25 мкм = 0,8 нм 0,7 мН M 400 прим. 190 x 170 x 75 мм; SD 26 163 мм x 72 мм x 74 мм 1,9 кг первичное 90 В до 264 В, вторичное 9 В. Техника измерения поверхностей MarSurf.