Техника измерения поверхностей MarSurf XR с программой анализа микрорельефа поверхности XT 20 Трехмерные измерения пресс-форм для использо

Техника измерения поверхностей MarSurf XR с программой анализа микрорельефа поверхности XT 20 Трехмерные измерения пресс-форм для использования в медицинской промышленности Описание В отношении пресс-форм для таких изделий, как контактные линзы, в дополнение к отдельному профилю для определения глубины неровностей, также представляет интерес и микрорельеф поверхности. Форма и глубина микронеровностей поверхности по всей области микрорельефа является решающим, когда дело доходит до функциональных показателей изделия. MarSurf. измерительная установка WS1 с датчиком по принципе ахроматического света Бесконтактные измерения поверхностных структур Описание Наиболее высокие поверхностные качества всегда создаются благодаря новым методам обработки и материалам. Эти участки значительно больше зависят от систем измерения с точки зрения разрешающей способности и точности измерений. Система MarSurf WS1 - это оптический измерительный преобразователь, который функционирует в соответствие с принципом интерферометрии ахроматического света. Эта технология обеспечивает быструю и высокоточную съемку микрорельефа поверхности широкой гаммы материалов. Особенности Высокая разрешающая способность по вертикали в 0,1 нм позволяет отснять мельчайшую структуру Может использоваться в пунктах ОТК и производственных условиях Компактная конструкция экономит место Конструкция оптической системы специально приспособлена к требованиям методов промышленной технологической обработки Технология подсветки с использованием светодиодов обеспечивает длительный ресурс Обработка информации с помощью программы для анализа микрорельефа поверхности MarSurf XT 20 обеспечивает исчерпывающий и удобный для пользователя анализ микрорельефа поверхности Может быть включена, как компонент ОЕМ (изготовителей комплектного оборудования) 10136 MarSurf.