Техника измерения поверхностей MarSurf XR 20 с программой анализа микрорельефа поверхности XT 20 Усовершенствование до уровня мощной систе

Техника измерения поверхностей MarSurf XR 20 с программой анализа микрорельефа поверхности XT 20 Усовершенствование до уровня мощной системы измерения микрорельефа поверхности Описание Для некоторых приложений одного щупового сечения формы поверхности недостаточно. Трехмерное представление и обработка микрорельефа поверхности позволяет получить более полную информацию о профиле. Измерительная установка MarSurf XR 20 может быть превращена в систему измерения микрорельефа поверхности достаточно просто и недорого, либо сразу при поставке, либо при необходимости усовершенствования. Всё, что необходимо в дополнение к стандартному объему поставки -это привод по оси Y CT 200-MOT для двухосного (XY) стола СТ 200 и программное обеспечение MarWin XT 20. Компоненты измерительной установки Такие же, как описанные на стр. 16-17 - 16-21, и дополнительно расширяющее возможности измерительной установки для обработки микрорельефа поверхности Технические характеристики привода CT 200 MOT MarSurf CT 200-MOT с электроприводом по оси Y Диапазон регулирования по оси Y Разрешение 17,5 мм 0,375 мкм Программное обеспечение MarSurf XT 20 Привод по оси Y CT 200-MOT № заказа 6299034 № заказа 6710543 MarSurf.