407 Каталог MAHR 2016 Измерительный инструмент и контрольно-измерительная техника Стр.15-43

Каталог MAHR 2016 Инструмент измерительный Стр. 15-43 0407 Lab2u

I MarSurf CWM 100 Описание Высоточная, управляемая компьютером, оптическая система измерения MarSurf CWM 100 с разрешением в субнанометровом диапазоне. Комбинированная трехмерная система измерения, объединяющая конфокальный микроскоп и интерферометр белого света. Универсальная применяемость для технических, оптических и отражающих поверхностей, поверхностей печатных плат, полупроводников и биологических тканей Двухмерный анализ и оценка поверхностей Трехмерный анализ и оценка поверхностей Быстрое измерение - малое время измерения Микроскопическое поле зрения, легко расширяемое благодаря полностью автоматическому процессу сшивания изображений Автоматическое позиционирование стола и объекта: 100 мм x 100 мм, больший ход по запросу Большой выбор объективов позволяет идеальную адаптацию к объекту измерения Жесткая конструкция с гранитным основанием и гранитной колонной для гашения вибраций Профессиональное программное обеспечение для оценки на основе MountainsMap Объем поставки Система датчика, в которую входит: - Конфокальный микроскоп KFM с турелью на 6 объективов - Камера 768 точек x 582 точек, до 48 кадров/с - Управляемая ЧПУ ось Z со стеклянной линейкой Heidenhain - Программный модуль WLI, ПО "Inspector" Гранитные основание и колонна с системой датчика управляемым ЧПУ столом объекта Моторизованный привод оси Z и стола XZ для позиционирования образца и сшивания поля зрения Объектив 50x0.8 EPI (конфокальный микроскоп) Объектив 20x0.4 DI (интерферометр белого света) Принадлежности Стол CT 120, двухосевой Качающийся стол +/-30° Комплект эталонов Конфокальный микроскоп: Объективы KFM 10x0.5; 20x0.75; 50x0.6, 50x0.8; 100x0.9 и другие Интерферометр белого света: Объективы WLI 2.5x0.075; 5x0.13; 10x0.3; 20x0.4; 50x0.55; 100x0.7 Гашение вибраций С опциональной системой активного гашения вибраций возможны измерения в нанометровом и субнанометровом диапазоне. Применение Технические характеристики Общее машиностроение Металлические поверхности всех типов (шлифованные, катанные и т.д.), также поверхности, текстурированные лазером, поверхностики керамики и пластиков, поверхности пресс-форм Медицинская промышленность Металлические, керамически и пластиковые поверхности имплантов, протезов и инструментов. Электронная промышленность Анализ поверхности покрытий, измерение и анализ деталей электроники и полупроводников. Оптическая промышленность Анализ формы и шероховатости различных деталей оптики (все материалы). Принцип измерения Диапазон измерения Интерферометрический, интерферометр белого света и конфокальный источник света (KFM and WLI): высокоэффективный светодиод, 505 нм Головка может перемещаться на величину 100 мм по Z, управление от ЧПУ Стол изделия может перемещаться по осям X и Y на 100 мм, управление от ЧПУ Интерферометр, интерферометр белого света (WLI): до 4 мм (в зависимости от установленных линз) Конфокальный микросокоп: диапазон измерения (KFM): до 800 мкм (в зависимости от разрешения по оси Z и установленных линз) WebCode 20566