Аксессуары Mitutoyo для ВИМ Quick Vision Следящий автофокус увеличивает стабильность и высокую скорость измерения по оси Z благодаря методу двойного малого отве

Аксессуары Mitutoyo для ВИМ Quick Vision Следящий автофокус увеличивает стабильность и высокую скорость измерения по оси Z благодаря методу двойного малого отверстия встроенного в направлящей системе. TAF отслеживает волнистость и криволинейность поверхности детали в направлении оси Z и улучшает пропускную способность в нормальном режиме измерения. Когда TAF используется на ВИМ Quick Vision Stream Plus становится возможным полностью непрерывное измерение. Спецификация Индексная головка QV II Пятно излучения следящего автофокуса (TAF) Минимальный угол вращения Максимальная скорость вращения Погрешность позиционирования Максимальный диаметр детали мм Если используется дополнительный многопозиционный поворотный стол то возможно проведение автоматических измерений в нескольких плоскостях 01 10 об мин 05 140 QV Индексная головка Коаксиальный следящий автофокус (TAF) Пример измерения высота пиков на QFP-корпусе TAF (1) (Следящий автофокус) Объектив Повторяемость LAF (о) Принцип измерения Диаметр лазерного пятна мкм TAF QV-HR25X 04 Метод двойных микроотверстий 3 (1) Заводская опция Mitutoyo Следящий автофокус Следящий автофокус (TAF) TTL через линзу Для Quick Vision-APEX Quick Vision-HYPER Quick Vision-STREAM PLUS Quick Vision-ULTRA