Профилометр-контурограф Mitutoyo Formtracer SV-C3200 SV-C4500 Серия 525 Formtracer SV-C3100 SV-C4100 Formtracer SV-C3200 Мощный как 2 отдельных спе

Профилометр-контурограф Mitutoyo Formtracer SV-C3200 SV-C4500 Серия 525 Formtracer SV-C3100 SV-C4100 Formtracer SV-C3200 Мощный как 2 отдельных специализированных инструмента. Экономично совмещает измерение шероховатости и контура в одном приборе. Расширенный диапазон измерения по 160 мм как стандарт диапазон измерения шероховатости 800мкм как стандарт. Легко сменные магнитные щупы обеспечивают отличную гибкость. SV-C3200 обеспечивает отличную точность и разрешение при измерениях по оси Z1. Formtracer SV-C4500 Устройство с двойным щупом для верхнего нижнего измерений контура Диапазон измерения контура по Z60mm диапазон измерения шероховатости 800мкм как стандарт. Сила измерения контролируется программным обеспечением Formtracepak. Легко сменные магнитные щупы обеспечивают отличную гибкость. SV-C4500 обеспечивает отличную точность и разрешение. Измерение шероховатости поверхности Соответствие DIN EN ISO VDA JIS ANSI и другим международным стандартам по шероховатости поверхности. Приводной блок SV-C3200 Приводной блок SV-C4500 178-097 Стол с перемещением по оси Y Поворотный стол 61 Mitutoyo Поворотный стол 62 Дюймовые продукты и комбинированные дюймовые метрические продукты как правило предназначенны для продажи в Великобритании. Спецификация Общее Размер базы (ШхГ) осьХ Диапазон измерения Разрешение Шкала Скорость привода Скорость измерения Прямолинейность Точность линейного смещения (20 С) Диапазон наклона ось Z2 (колонна) Вертикальное перемещение Разрешение Шкала Скорость привода ось Z1 (детекторный блок) Диапазон измерения Разрешение Шкала Точность линейного смещения (20 С) Щуп вверх вниз Усилие измерения Прослеживаемый угол Щуп ось Х1 Диапазон измерения Скорость привода Направление Прямолинейность ось Z2 (колонна) Вертикальное перемещение Разрешение Скорость привода Детектор Диапазон Разрешение Усилие измерения Тип 600 х 450 мм (модель S Н) или 10ОО х 450 мм (модель W) Контурное измерение 100 мм или 200 мм 005 мкм Рефлективный датчик линейных перемещений 0 80 мм с и вручную 002 5 мм с вперед назад 08 мкм 100 мм 2 мкм 200 мм (с горизонтальным ориентированием по оси X) (08+001 L) мкм (модели S4 Н4 W4) (08+002L) мкм (модели S8 Н8 W8) 1длина хода (мм) 45 (с блоком отклонения по оси X) 300 мм или 500 мм 1 мкм Линейный кодировщик ABSOLUTE 0 30 мм с и вручную 60 мм SV-C3200:004 мкм SV-C4500:002 мкм RT-детекгор SV-C3200 (1.6+I2HI 100) мкм SV-C4500 (08+12Н1 100) мкм Н высота измерения от горизонтальной поверхности (мм) Круговое движение SV-C3200:30 мН SV-C4500:10 20 30 40 50 мН (контролируется программным обеспечением) По восходящей 77 по нисходящей 83 Радиус 25 мкм твердосплавный наконечник Шероховатость поверхности 100 мм или 200 мм 0 80 мм с и вручную Назад (005+0001 L) мкм (S4 Н4 W4) 05 мкм 200 мм (S8 Н8 W8) 300 мм или 500 мм 1 мкм 0 30 мм с и вручную 800 001 мкм 80 0001 мкм 8 00001 мкм (до 2400 мкм с дополнительным наконечником) 4 мН 0.75 мН Дифференциальная индуктивность