Лаб  |   Каталоги  |   Диаметр под резьбу  |   Обороты в скорость  |   Аналоги сталей
Обновлено 2020-05-03 13:08:03
Контрольно-измерительный инструмент и оборудование / Measuring instruments

MITUTOYO | Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный и приборы (Всего 633 стр.)

Микроскопный блок Mitutoyo серии FS70 для контроля полупроводников Общий вид и основные характеристики Отличные рабочие показатели благодаря вращающейс

451 Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный и приборы контрольно-измерительные Стр.451

451 Микроскопный блок Mitutoyo серии FS70 для контроля полупроводников Общий вид и основные характеристики Отличные рабочие показатели благодаря вращающейс Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии Стр. 451

Микроскопный блок Mitutoyo серии FS70 для контроля полупроводников Общий вид и основные характеристики Отличные рабочие показатели благодаря вращающейс

Микроскопный блок Mitutoyo серии FS70 для контроля полупроводников Общий вид и основные характеристики Отличные рабочие показатели благодаря вращающейся внутрь револьверной головке и высококачественным линзам длиннофокусного объектива. - Эффективны в качестве инструмента для исследования полупроводников. - Модели L- и L4- поддерживают длины волн ИАГ лазера от 266 до 1064 нм, позволяя производить лазерную резку тонких пленок и жидкокристаллических подложек - Эргономичный дизайн с комбинированной ручкой для грубой и тонкой настройки фокуса. FS70Z FS70L FS70L4 Модель FS70 FS70-TH FS70Z FS70Z-TH № 378-184-1 378-184-3 378-185-1 378-185-3 Модель с короткой базой FS70-S FS70-THS FS70Z-S FS70Z-THS Артикул № модель с короткой базой 378-184-2 378-184-4 378-185-2 378-185-4 Соотношение оптических путей 50/50 50/50 50/50 50/50 Микроскопный блок Серия 378 - Линза трубки 1X 1X 1X, 2X zoom 1X, 2X zoom Крепление камеры Крепление C-mount (с использованием опционального адаптера В) Крепление C-mount (с использованием опционального адаптера В) Крепление C-mount (с использованием опционального адаптера В) Крепление C-mount (с использованием опционального адаптера В) Нагрузка ( 1), кг 14,5 13,6 14,1 13,2 Масса кг 6,1 7,1 6,6 7,5 ;1) Нагрузка на оптическую трубку без учета массы объективов и окуляров. Модель FS70L FS70L-TH FS70L4 FS70L4-TH № 378-186-1 378-186-3 378-187-1 378-187-3 Модель с короткой базой FS70L-S FS-70L-THS FS70L4-S FS70L4-THS Артикул № модель с короткой базой 378-186-2 378-186-4 378-187-2 378-187-4 Соотношение оптических путей 100/0 / 0/100 100/0 / 0/100 100/0 / 0/100 100/0 / 0/100 Защитный фильтр Встроенный фильтр лазерного луча Встроенный фильтр лазерного луча Встроенный фильтр лазерного луча Встроенный фильтр лазерного луча Линза трубки 1X 1X 1X 1X Применимый лазер 1 064/532//355 нм 1 064/532/355 нм 532/266 нм 532/266 нм Крепление камеры Используйте лазер с портом TV. Используйте лазер с портом TV. Разъём крепления C-mount (с переключателем зеленого фильтра) Разъём крепления C-mount (с переключателем зеленого фильтра) Объектив, опцион. (для лазерной резки) M/LCD Plan NIR M/ LCD Plan NUV M/LCD Plan NIR M/ LCD Plan NUV M Plan UV M Plan UV Нагрузка ( 1), кг 14,2 13,5 13,9 13,1 Масса кг 6,4 7,2 6,7 7,5 ;1) Нагрузка на оптическую трубку без учета массы объективов и окуляров. См. брошюру по микроскопным блокам и объективам 451 Mitutoyo Спецификация Регулировка фокуса Тринокулярное изображение трубки Расстояние между зрачками Номер поля Угол наклона Система освещения Источник света Объектив (опция) FS-70L/L4 Метод : с помощью концентрических маховиков грубой и плавной фокусировки (справа и слева) Диапазон : диапазон перемещения 50 мм, 0,1 мм/об. для грубой регулировки, 3,8 мм/ об. для грубой регулировки Прямое изображение Тип Siedentopf, диапазон регулирования : 51-76 мм 24 0°- 20° (только модели - TH, -THS) Отраженное освещение для светлого поля (подсветка Келлера, с апертурной диафрагмой ) 12 В / 100 Вт,оптоволоконное, непрерывная регулировка, длина световода 1,5 м, потребляемая мощность 150 Вт M Plan Apo, M Plan Apo SL, G Plan Apo FS70L поддерживает три длины волны ИАГ лазера (1064 нм, 532 нм и 355 нм), а FS70L4 поддерживает две длины волны (532 нм и 266 нм), что позволяет расширить сферу применений лазеров, позволяя лазерную резку тонких пленок, используемых в полупроводниках и жидких кристаллических подложках. Тем не менее, Mitutoyo не несет никакой ответственности за любой сбой производительности и / или безопасности лазерной системы, используемой с микроскопами Mitutoyo. Тщательное исследование рекомендуется при выборе лазерного излучателя. Светлое поле, дифференциальный интерференционный контраст (DIC) и наблюдения в поляризованном освещении являются стандартными для FS70Z. FS70L и FS70L4 не поддерживают DIC метод. При использовании наклоненной внутрь револьверной головки длиннофокусные объективы обеспечивают отличную работоспособность.


См.также / See also :

Отклонения размеров / Fit tolerance table

Соотношение твердостей Таблица / Hardness equivalent table

Типы резьб / Thread types and applications

Аналоги сталей / Workpiece material conversion table

Отверстия под резьбу / Tap drill sizes

Обороты в скорость / Surface speed to RPM conversion

Перевод дюймов в мм / Inches to mm Conversion table

Перевод единиц в систему СИ / SI unit conversion table



MITUTOYO

Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии
Каталог
MITUTOYO
2017
Инструмент
измерительный
и приборы
(633 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 Измерительный инструмент метрологическое оборудование и контрольно-измерительные приборы
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
(664 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 Измерительный инструмент и оборудование для контроля и измерений в машиностроении Издание GB-20001
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
GB-20001
(англ. яз.)
(663 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 US-1003 Измерительный инструмент и контрольно-измерительное оборудование и приборы для машиностроения
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
US-1003
(англ. яз.)
(561 страница)
Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент Контрольно-измерительные приборы и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2014
Инструмент
и приборы
(660 страниц)
Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2013
Измерительный
инструмент и
оборудование
(675 страниц)
Каталог MITUTOYO 2012 Контрольно-измерительный инструмент оборудование и приборы для машиностроения
Каталог
MITUTOYO
2012
Инструмент
и оборудование
(654 страницы)
Каталог MITUTOYO 2011 Средства измерений Мерительные инструменты и контрольно-измерительное оборудование Издание GB-16001
Каталог
MITUTOYO
2011
Мерительные
инструменты
GB-16001
(англ. яз.)
(666 страниц)
Каталог MITUTOYO 2009 Средства измерений измерительный инструмент и приборы
Каталог
MITUTOYO
2009
Средства
измерений
(413 страниц)
Каталог MITUTOYO 2007 Средства измерений Измерительные инструменты приборы оборудование для машиностроения и промышленности
Каталог
MITUTOYO
2007
Средства
измерений
(398 страниц)
Каталог MITUTOYO 2003 Измерительные инструменты приборы и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2003
Измерительные
инструменты
(англ. яз.)
(492 страницы)





Каталоги измерительного инструмента и оборудования /
Measuring instruments and equipment catalogs



Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный и приборы (Всего 633 стр.)

448 Измерительные микроскопы Hyper MF / MF-U поколения B Серия 176 Этот измерительный микроскоп имеет одну из самых высоких точностей измерения по XY: (0,9 Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии Стр. 448448 449 Измерительные микроскопы Hyper MF / MF-U поколения B Опциональные аксессуары Серия 176 № Описание 264-159D Блок обработки данных XY, QM-Data 200 для Hy Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии Стр. 449449 450 Видеосистема Vision Unit Серия 359 Эта видеосистема предназначена для модернизации измерительных микроскопов и позволяет быстро распознать края детали Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии Стр. 450450 452 Видеомикроскопный блок серии VMU Серия 378 VMU это компактный, легкий и простой в установке микроскопный блок для мониторинга на полупроводниковых прои Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии Стр. 452452 453 Видеомикроскопный блок серии VMU См брошюру по микроскопам и объективам Серия 378 Серия блоков WIDE VMU выводит оптическую видеомикроскопию на новый ур Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии Стр. 453453 454 Окуляры WF с широким полем зрения Серия 378 - Сверхширокое поле зрения - Возможно приобретение опциональных визирных сеток - Подходит для микроскопов: Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии Стр. 454454



---

---






Lab2U |  Catalogs |  Tap drill sizes |  Speed to RPM |  Material table

Разработчики сайта / Developers of site



Поиск на сайте Lab2u.ru с помощью поисковых систем ЯНДЕКС, BING, GOOGLE:



Все использованные информационные материалы являются собственностью их Уважаемых Владельцев. / All copyrights remain by their owners.


Если Вы являетесь правообладателем того или иного материала, размещенного на сайте lab2u.ru и не желаете, чтобы он и далее находился в свободном доступе,
то мы готовы удалить данный материал, а также обсудить условия предоставления данного контента пользователям. Для этого Вам необходимо отправить нам письмо
на e-mail prom@lab2u.ru с документальным подтверждением наличия у Вас прав на материал, защищённый авторским правом (отсканированный документ с печатью,
либо иная информация, позволяющая однозначно идентифицировать Вас как правообладателя данного материала).


© 2002 - 2026 Лаборатория 2У / Lab2U  |  Система "Промышленные каталоги" / Industrial catalogs   |   Яндекс.Метрика   |  Стр. / Page Lab2U2160228990
На забудьте добавить в закладки