Прибор MarSurf XC 20 является лучшим выбором 30 лет назад называлось контурографом состоящим из механизма подачи и двухкоординатного плотт

Прибор MarSurf XC 20 является лучшим выбором 30 лет назад называлось контурографом состоящим из механизма подачи и двухкоординатного плоттера сегодня превратилось в суперсовременную систему измерения контура с новейшими технологиями. Эта полностью согласованная конфигурация приборов соответствует высочайшим стандартам качества работы. Механизм подачи и измерительный стенд управляются и позиционируются с помощью достоверных измерений и аналитического программного обеспечения. Особенности В дополнение к функциям прибора первого уровня MarSurf XC 2, прибор MarSurf XC 20 обеспечивает дополнительные функции Возможно отображение примечаний в процессе работы Интерактивные элементы управления поддерживают процесс обработки и автоматическую последовательность операций Измерение верхнего и нижнего контура "двухопорным щупом"; эти контуры могут быть обработаны друг относительно друга Образование участков профилей с вычислением различных параметров каждого участка Возможны сегментированные измерения вокруг неоднородностей, таких как отверстия или острые кромки Импорт файлов формата DXF для сравнения заданных/фактических значений Механизм подачи PCV 200 с запатентованным фиксатором щуповой консоли позволяет производить воспроизводимую смену щуповых консолей без использования инструмента Гибкость измерительной станции благодаря патентованной системе щупов Свободно варьируемое вручную усилие ощупывания также обеспечивает гибкость системы Синтетическое составление заданных профилей из прямых и дуг окружностей Простая процедура сравнения заданных и текущих профилей Внутри измеренного профиля может быть установлено несколько диапазонов и каждый из этих диапазонов может быть поставлен в соответствие различным допускам и отдельно обработан Исполнение Комбинированием программного обеспечения MarSurf XC 20, высокоточной системы UD 120, оснащенной щупом и приводом, и измерительной стойки ST 500 или ST 750 может быть достигнута разрешающая способность в нанометровом диапазоне, и появится возможность определять контур и глубину микронеровностей за один цикл измерений. Дополнительные функции, такие как экспорт данных в формате QS-STAT или определение доминантной волнистости, поставляются по заказу. 2736 MarSurf. Техника измерения поверхностей MarSurf XC 20 Новое поколение систем измерения контура Описание Когда дело доходит до измерения контура,