Лаб  |   Каталоги  |   Диаметр под резьбу  |   Обороты в скорость  |   Аналоги сталей
Обновлено 2020-04-24 07:59:26
Контрольно-измерительный инструмент и оборудование / Measuring instruments

MITUTOYO | Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент (Всего 675 стр.)




494 Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование Стр.492

494 Микроскопы Краткое руководство по высокоточным измерительным приборам Числовая Апертура (NA) Величина NA важна, так как она показывает разрешающую способно Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование Стр. 492

Микроскопы Краткое руководство по высокоточным измерительным приборам Числовая Апертура (NA) Величина NA важна, так как она показывает разрешающую способно

Микроскопы Краткое руководство по высокоточным измерительным приборам Числовая Апертура (NA) Величина NA важна, так как она показывает разрешающую способность линзы объектива. Чем больше значение NA, тем мельче детали можно увидеть. Линза с большим значением NA также собирает больше светового излучения и обычно позволяет получить более яркое изображение с меньшей глубиной фокуса, чем линза с меньшим значением NA. NA = n-Sine Вышеуказанная формула показывает, что NA зависит от величины n, индекс преломления среды, располагающейся между передней частью объектива и образцом (для воздуха n=1.0), и углом 0, который является половинным углом максимального пучка световых лучей, который может войти в линзу. Разрешающая способность (R) Минимальное находимое расстояние между двумя точками изображения, представляющими предел разрешения. Разрешающая способность (R) определяется числовой апертурой (NA) и длиной волны (X) освещения. 1 R = 2-NA - L/ иеПарфокальное расстоян Рабочее расстояние Точечный источник на образце Линза (трубка), формирующая изображение Свет от точечного источника фокусируется на плоскость промежуточного изображения Увеличение объектива = f2/f Ограниченная оптическая система Оптическая система, которая использует объектив для формирования промежуточного изображения в ограниченной позиции. Свет, отраженный от поверхности рабочей детали, проходя через объектив, направлен к плоскости промежуточного изображения (расположенного спереди фокусной плоскости окуляра) и сходится в той плоскости. Точечный источник на рабочей детали “1 Линза объектива Свет от точечного источника фокусируется на плоскость промежуточного изображения с Li L2 Увеличение объектива = L2/L1 Фокусная длина (f) ед. изм. мм Расстояние от главной точки до фокусной точки линзы если f1 представляет собой фокусную длину объектива, а f2 - фокусную длину линзы (трубки), формирующей изображение, тогда степень увеличения определяется отношением между двумя величинами. (В случае оптической системы с корректировкой в бесконечности.) ,, Фокальная длина линзы (трубки) Увеличение объектива = -— Фокальная длина объектива 1 = 0.55 мкм часто используется в качестве опорной длины волны Рабочее расстояние (W.D.) Расстояние между передним концом объектива микроскопа и поверхностью образца, при котором достигается более резкая фокусировка. Парфокальное расстояние Расстояние между положением установки объектива микроскопа и поверхностью рабочей детали, при котором достигается более резкая фокусировка. Линзы объектива, установленные в один и тот же револьвер, должны иметь одинаковое парфокальное расстояние, чтобы, когда будет использоваться другой объектив, требовалась бы минимальная перефокусировка. Пример 1X = -200- 10X = 200 20 Фокусная точка Лучи света, проходящие параллельно оптической оси системы сходящихся линз и проходящие через ту систему, сойдутся (или сфокусируются) в точке на оси, известной как точка заднего фокуса, или фокусная точка изображения. Глубина фокуса (DOF) ед. изм. мм Также известна как глубина поля это расстояние (измеряемое в направлении к оптической оси) между двумя плоскостями, которое определяет пределы допустимой резкости изображения, когда микроскоп сфокусирован на предмет. При увеличении числовой апертуры (NA), глубина фокуса уменьшается, как показано в нижеследующем выражении Шмкм DOF = - Оптическая система с фокусировкой на бесконечность Оптическая система, в которой объектив формирует изображение в бесконечности и линза трубки помещена в трубку корпуса между объективом и окуляром для получения промежуточного изображения. После прохождения через объектив луч света двигается фактически параллельно оптической оси к линзе трубки, через то, что называется пространством бесконечности ("infinity space'), внутри которого можно расположить дополнительные компоненты дифференциального интерференционного контраста (DIC), такие как призмы, поляризаторы и др., с минимальным влиянием на фокус и аберрационную корректировку. Линза объектива Пример Для M Plan Apo 100X линз (NA = 0.7) Глубина фокуса будет равна 0.55мкм 2 x 0.72 = 0.6мкм Пространство бесконечности Освещение методом светлого поля и методом темного поля При освещении методом светлого поля весь пучок света фокусируется объективом на поверхность образца. нормальный режим просмотра через оптический микроскоп. При освещении методом темного поля, внутренняя область светового пучка блокируется таким образом, что поверхность освещается только под углом. Освещение методом темного поля подходит для обнаружения царапин и загрязнений на поверхности. Апохроматические и ахроматические объективы Апохроматический объектив - это линза, настроенная на хроматическую аберрацию (цветное пятно) в трех цветах (красный, синий, желтый). Ахроматический объектив - это линза, настроенная на хроматическую аберрацию в двух цветах (красный, синий). Mitutoyo 492


См.также / See also :

Отклонения размеров / Fit tolerance table

Соотношение твердостей Таблица / Hardness equivalent table

Типы резьб / Thread types and applications

Аналоги сталей / Workpiece material conversion table

Отверстия под резьбу / Tap drill sizes

Обороты в скорость / Surface speed to RPM conversion

Перевод дюймов в мм / Inches to mm Conversion table

Перевод единиц в систему СИ / SI unit conversion table


Оптические измерительные системы Mitutoyo Измерительные микроскопы Проекторы Лупы Стереомикроскопы




Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент (Всего 675 стр.)

491 Измерительные микроскопы Mitutoyo MF-U поколения D с лазерным автофокусом (LAF) Наблюдение светлого поля Модель MF-UE2017D MF-UE3017D MF-UE4020D Номер 176- Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование Стр. 489491 492 Измерительный микроскоп Mitutoyo Hyper MF / MF-U поколения B имеет самую высоку точность измерения по XY в 0,9+3L/1000 мкм Данное высокоточное японское изм Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование Стр. 490492 Измерительный микроскоп Mitutoyo Hyper MF / MF-U поколения B имеет самую высоку точность измерения по XY в 0,9+3L/1000 мкм Данное высокоточное японское изм493 Измерительные микроскопы Mitutoyo Hyper MF MF-U поколения B Опциональные аксессуары Номер Описание 264-149D Вычислительный блок QM-Data 200 для Hyper MF/MF Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование Стр. 491493 495 Увеличение Отношение размера увеличенного изображения предмета, созданного оптической системой, к размеру предмета Увеличение обычно относится к линейному Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование Стр. 493495 496 Микроскопный блок Mitutoyo серии FS70 Серия 378 для осмотра полупроводников Отличные рабочие показатели благодаря внутренней револьверной головке и высокок Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование Стр. 494496 497 Видеомикроскопный блок Mitutoyo серии VMU Спецификация Усиление трубы 1X Отраженная Телецентрическая система с подсветка системой фиксации апертуры Требует Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование Стр. 495497



MITUTOYO

Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии
Каталог
MITUTOYO
2017
Инструмент
измерительный
и приборы
(633 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 Измерительный инструмент метрологическое оборудование и контрольно-измерительные приборы
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
(664 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 Измерительный инструмент и оборудование для контроля и измерений в машиностроении Издание GB-20001
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
GB-20001
(англ. яз.)
(663 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 US-1003 Измерительный инструмент и контрольно-измерительное оборудование и приборы для машиностроения
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
US-1003
(англ. яз.)
(561 страница)
Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент Контрольно-измерительные приборы и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2014
Инструмент
и приборы
(660 страниц)
Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2013
Измерительный
инструмент и
оборудование
(675 страниц)
Каталог MITUTOYO 2012 Контрольно-измерительный инструмент оборудование и приборы для машиностроения
Каталог
MITUTOYO
2012
Инструмент
и оборудование
(654 страницы)
Каталог MITUTOYO 2011 Средства измерений Мерительные инструменты и контрольно-измерительное оборудование Издание GB-16001
Каталог
MITUTOYO
2011
Мерительные
инструменты
GB-16001
(англ. яз.)
(666 страниц)
Каталог MITUTOYO 2009 Средства измерений измерительный инструмент и приборы
Каталог
MITUTOYO
2009
Средства
измерений
(413 страниц)
Каталог MITUTOYO 2007 Средства измерений Измерительные инструменты приборы оборудование для машиностроения и промышленности
Каталог
MITUTOYO
2007
Средства
измерений
(398 страниц)
Каталог MITUTOYO 2003 Измерительные инструменты приборы и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2003
Измерительные
инструменты
(англ. яз.)
(492 страницы)





Каталоги измерительного инструмента и оборудования /
Measuring instruments and equipment catalogs



---

---






Lab2U |  Catalogs |  Tap drill sizes |  Speed to RPM |  Material table

Разработчики сайта / Developers of site



Поиск на сайте Lab2u.ru с помощью поисковых систем ЯНДЕКС, BING, GOOGLE:



Все использованные информационные материалы являются собственностью их Уважаемых Владельцев. / All copyrights remain by their owners.


Если Вы являетесь правообладателем того или иного материала, размещенного на сайте lab2u.ru и не желаете, чтобы он и далее находился в свободном доступе,
то мы готовы удалить данный материал, а также обсудить условия предоставления данного контента пользователям. Для этого Вам необходимо отправить нам письмо
на e-mail prom@lab2u.ru с документальным подтверждением наличия у Вас прав на материал, защищённый авторским правом (отсканированный документ с печатью,
либо иная информация, позволяющая однозначно идентифицировать Вас как правообладателя данного материала).


© 2002 - 2026 Лаборатория 2У / Lab2U  |  Система "Промышленные каталоги" / Industrial catalogs   |   Яндекс.Метрика   |  Стр. / Page Lab2U3604032602
На забудьте добавить в закладки