Измерительный микроскоп Mitutoyo MF-U Спецификация Наблюдаемое изображение Точность измерения (при 20С) Точность показаний(при 20С) Функция перемещ

Измерительный микроскоп Mitutoyo MF-U Спецификация Наблюдаемое изображение Точность измерения (при 20С) Точность показаний(при 20С) Функция перемещения Метод фокусировки Оптическая трубка Окулярная линза Револьверная головка (опционально) Линза объектива (дополнит.) Проходящая подсветка(опция) Поверхностная подсветка(опция) Разрешение экрана Источник питания Прямое изображение Ось XY (22+002L) мкм L Длина измерения (мм) без нагрузки JIS В7153 Ось Z (5+004L) мкм L Длина измерения (мм) Оси X и Y с механизмом быстрого отключения Ручной (грубая фокусировка 10 мм/об. плавная фокусировка 01 мм/об.) Тип Зидентопф (регулировка расстояния до зрачка 51 76 мм) трубная линза 1Х бинокулярная труба (угол снижения 30") Метод проекции визирных перекрестий с TV-адаптером соотношение оптического пути (окуляр TV-адаптер 50 50) 10Х (поле 24 мм) Дополнительно 15Х 20Х Ручной или механизированный Объектив BD Plan Аро от 1X до 100Х Источник света Галогенная лампа (12 В 50 Вт) Оптическая система Телецентрическая система освещения с регулируемыми апертурными диафрагмами Функции Регулировка интенсивности освещения неступенчатая регулировка яркости Источник света Дополнительный блок галогенной подсветки (оптоволоконное холодное освещение) Оптическая система Система освещения Koehler с регулируемыми апертурными диафрагмами Функции Регулировка интенсивности освещения неступенчатая регулировка яркости 0001 мм 000005 дюйма (до 4 дюймов) или 0001 мм 00001 дюйма (свыше 4 дюймов) 220 240В АС 50 60Гц Vrf v w г- V V 1 а ftfcl с 'XT jjj Источник Дифференциальный интерферентный контраст Темное поле См. проспект на микроскопы MF MF-U Серия 176 Высокомощный и многофункциональный Измерительный микроскоп который обеспечивает подробный обзор с четким и немелькающим прямым изображением и широким полем видимости. Точность измерения которая является одной из лучших (и соответствует стандарту JIS В 7153). Знаменитые NA-объективы из FS оптической системы (с длинным рабочим диапазоном). Интеграция металлографических и измерительных функций микроскопа обеспечивает высокое разрешение наблюдений и высокую точность измерений. Дополнительное устройство освещения (отраженное проходящее) от диода большой интенсивности или галогеновой лампы (требуется). Переменное отверстие диафрагмы (отраженное проходящее) позволяет проводить измерения при одновременном подавлении дифракции света. Разнообразие стандартизированнх платформ размером до 400 х 200 мм. Быстрый спусковой механизм полезен для быстрого перемещения платформы при измерении деталей которые имеют большие размеры или количество. Окуляр высокого увеличения до 4000Х. Низкий уровень шума. MF-UB 3017С (механизированная револьверная головка объективы и подсветка приобретаются дополнительно) 497 Mitutoyo поляризованного света Дюймовые продукты и комбинированные дюймовые метрические продукты как правило предназначенны для продажи в Великобритании. Описания товаров а также возможности и характеристики обязательно должны быть предварительно подтвержцены.