459 Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный и приборы контрольно-измерительные Стр.459

Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Стр. 459 0459 Lab2u

Спецификация Сокращения в таблице M Plan Apo NIR Увел. : Увеличение N.A. : Числовая апертура W.D. : Рабочее расстояние f : Фокусное расстояние R : Разрешающая способность D.F. : Глубина резкости F.O.V. 1 : Поле зрения при использовании окуляра 024 мм F.O.V. 2 : Поле зрения при использовании камеры с матрицей 1/2" / 12,7 мм Примечание : Эти объективы сконструированы таким образом, что изображение детали остается сосредоточенным в фокусе даже тогда, когда используемая длина волны изменяется внутри видимого диапазона до ближнего ультракрасного (от 480 до 1800 нм). Поэтому серия M Plan NIR подходит для лазера. См. брошюру по микроскопным блокам и объективам Объективы серии FS для наблюдения в ближней ИК, ближней УФ и УФ областях спектра Серия 378 5 0.4 37.5 (W.D.) £ 1 30.5 w.d.) £ 0.6 20 (w.d.; = = = = = = 57.5 5 64.5 5 7 95 95 95 378-822-5 378-823-5 378-824-5 - = fi | Л I = И | П I = ЕЕ 7 5 8 95 95 (Parfocal distance) 378-825-5 (Parfocal distance) 378-826-5 95 (Parfocal distance) 378-863-5 378-864-5 M Plan Apo NIR с коррекцией в ближней инфракрасной области спектра для наблюдения в светлом поле Подходит для микроскопов VMU / FS-70 № Увеличение N.A. W.D. f R D.F. F.O.V. 1 F.O.V. 2 Масса г 378-822-5 5X 0,14 37,5 мм 40 2 мкм 14 мкм 04,8 мм 0,96x1,28 мм 220 378-823-5 10X 0,26 30,5 мм 20 1,1 мкм 4,1 мкм 02,4 мм 0,48x0,64 мм 250 378-824-5 20X 0,4 20 мм 10 0,7 мкм 1,7 мкм 01,2 мм 0,24x0,32 мм 300 378-825-5 50X 0,42 17 мм 4 0,7 мкм 1,6 мкм 00,48 мм 0,1x0,13 мм 315 378-826-5 100X 0,5 12 мм 2 0,6 мкм 1,1 мкм 00,24 мм 0,05x0,06 мм 335 378-863-5 50X 0,65 10 мм 4 0,42 мкм 0,65 мкм 00,48 мм 0,1x0,13 мм 450 378-864-5 100X 0,7 10 мм 2 0,39 мкм 0,56 мкм 00,24 мм 0,05x0,06 мм 450 459 Mitutoyo