Шероховатость и волнистость измеряются просто Прибор MarSurf XP 20 Отличное вхождение в современную технику измерения поверхностей Прибор базируемый

Шероховатость и волнистость измеряются просто Прибор MarSurf XP 20 Отличное вхождение в современную технику измерения поверхностей. Прибор базируемый на РС даёт как в измерительной лаборатории так и на производстве все типовые параметры и профили по международному стандарту. Производительная установка MarSurf XP 20 объединяет десятилетний опыт в технике измерения поверхности с ориентированной в будущее технологией наглядные символы и комфортабельную помощь в обслуживании. Характеристики Могут выбираться более 65 параметров для R- P- и W-профиля согласно ISO JIS или MOTIF г Контроль допусков и статистики для всех параметров Быстрое создание Quick&Easy-программ измерения с помощью метода обучения Обширное протоколирование Автоматическая функция выбора соответствующего нужным нормам фильтра и участка ощупывания (патент) Поддержка различных методов калибровки (статических динамических) с заданием параметра Ra или Rz Регулируемые параметры технического обслуживания и калибровки Режим моделирования для быстрого обучения методам работы Множество конфигураций измерительной установки для индивидуального применения. Устанавливаются различные уровни пользователя Гибкость системы благодаря различным опциям и созданию специальных параметров для пользователей Различные уровни пользователей защищают от ошибочной эксплуатации прибора и обеспечивают невозможность использования прибора некомпетентным пользователем Принадлежности Возможности подключения для механизмов подачи PZK GD 25 PGK 20 PGK 120 PRK Имеется в распоряжении опция для основной волнистости Доступность использования программного обеспечения также в качестве программы обработки для М - и S-приборов Передача данных в QS-STAT поставляется дополнительно MarSurf. Приборы и системы измерения поверхности М 16-11 Mahr MarSurf XR 20 Описание