Лаб  |   Каталоги  |   Диаметр под резьбу  |   Обороты в скорость  |   Аналоги сталей
Обновлено 2020-04-25 19:40:10
Контрольно-измерительный инструмент и оборудование / Measuring instruments

MITUTOYO | Каталог MITUTOYO 2014 Инструмент и приборы (Всего 660 стр.)




475 Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент приборы оборудование Стр.473

475 Микроскопы Числовая Апертура (NA) Величина NA важна так как она показывает разрешающую способность линзы объектива Чем больше значение NA тем мельче детали можн Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент Контрольно-измерительные приборы и оборудование Стр. 473

Микроскопы Числовая Апертура (NA) Величина NA важна так как она показывает разрешающую способность линзы объектива Чем больше значение NA тем мельче детали можн

Микроскопы Числовая Апертура (NA) Величина NA важна так как она показывает разрешающую способность линзы объектива Чем больше значение NA тем мельче детали можно увидеть Краткое руководство по высокоточным измерительным приборам Линза с большим значением NA также собирает больше светового излучения и обычно позволяет получить более яркое изображение с меньшей глубиной фокуса чем линза с меньшим значением NA. NA n-Sine Вышеуказанная формула показывает что NA зависит от величины n индекс преломления среды располагающейся между передней частью объектива и образцом (для воздуха n1.0) и углом 0 который является половинным углом максимального пучка световых лучей который может войти в линзу. Разрешающая способность (R) Минимальное находимое расстояние между двумя точками изображения представляющими предел разрешения. Разрешающая способность (R) определяется числовой апертурой (NA) и длиной волны (X) освещения. 1 R 2-NA Точечный источник на образце Линза (трубка) формирующая изображение Свет от точечного источника фокусируется на плоскость промежуточного изображения Увеличение объектива f2 f Ограниченная оптическая система Оптическая система которая использует объектив для формирования промежуточного изображения в ограниченной позиции. Свет отраженный от поверхности рабочей детали проходя через объектив направлен плоскости промежуточного изображения (расположенного спереди фокусной плоскости окуляра) и сходится в той плоскости. Линза объектива l tY Свет от точечного источника фокусируется на плоскость промежуточного изображения на рабочей детали Увеличение объектива L2 L1 Фокусная длина (f) ед. изм. мм Расстояние от главной точки до фокусной точки линзы если f1 представляет собой фокусную длину объектива а f2 - фокусную длину линзы (трубки) формирующей изображение тогда степень увеличения определяется отношением между двумя величинами. (В случае оптической системы с корректировкой в бесконечности.) Фокальная длина линзы (трубки) Увеличение объектива Фокальная длина объектива 1 0.55 мкм часто используется в качестве опорной длины волны Рабочее расстояние (W.D.) Расстояние между передним концом объектива микроскопа и поверхностью образца при котором достигается более резкая фокусировка. Парфокальное расстояние Расстояние между положением установки объектива микроскопа и поверхностью рабочей детали при котором достигается более резкая фокусировка. Линзы объектива установленные в один и тот же револьвер должны иметь одинаковое парфокальное расстояние чтобы когда будет использоваться другой объектив требовалась бы минимальная перефокусировка. Рабочее расстояние Пример 1X -200- 10X 200 20 Фокусная точка Лучи света проходящие параллельно оптической оси системы сходящихся линз и проходящие через ту систему сойдутся (или сфокусируются) в точке на оси известной как точка заднего фокуса или фокусная точка изображения. Глубина фокуса (DOF) ед. изм. мм Также известна как глубина поля это расстояние (измеряемое в направлении оптической оси) между двумя плоскостями которое определяет пределы допустимой резкости изображения когда микроскоп сфокусирован на предмет. При увеличении числовой апертуры (NA) глубина фокуса уменьшается как показано в нижеследующем выражении Шмкм dof - Парфокальное расстояние Оптическая система с фокусировкой на бесконечность Оптическая система в которой объектив формирует изображение в бесконечности и линза трубки помещена в трубку корпуса между объективом и окуляром для получения промежуточного изображения. После прохождения через объектив луч света двигается фактически параллельно оптической оси линзе трубки через то что называется пространством бесконечности ("infinity space') внутри которого можно расположить дополнительные компоненты дифференциального интерференционного контраста (DIC) такие как призмы поляризаторы и др. с минимальным влиянием на фокус и аберрационную корректировку. Линза объектива Пример Для M Plan Apo 100X линз (NA 0.7) Глубина фокуса будет равна 0.55мкм 2 x 0.72 0.6мкм Пространство бесконечности Освещение методом светлого поля и методом темного поля При освещении методом светлого поля весь пучок света фокусируется объективом на поверхность образца. Это нормальный режим просмотра через оптический микроскоп. При освещении методом темного поля внутренняя область светового пучка блокируется таким образом что поверхность освещается только под углом. Освещение методом темного поля подходит для обнаружения царапин и загрязнений на поверхности. Апохроматические и ахроматические объективы Апохроматический объектив - это линза настроенная на хроматическую аберрацию (цветное пятно) в трех цветах (красный синий желтый). Ахроматический объектив - это линза настроенная на хроматическую аберрацию в двух цветах (красный синий). 473 Mitutoyo


См.также / See also :

Отклонения размеров / Fit tolerance table

Соотношение твердостей Таблица / Hardness equivalent table

Типы резьб / Thread types and applications

Аналоги сталей / Workpiece material conversion table

Отверстия под резьбу / Tap drill sizes

Обороты в скорость / Surface speed to RPM conversion

Перевод дюймов в мм / Inches to mm Conversion table

Перевод единиц в систему СИ / SI unit conversion table



MITUTOYO

Каталог MITUTOYO 2017 Инструмент измерительный Микрометры цифровые и механические Штангенциркули стандартные и специальные Индикаторы Индикаторные головки Приборы из Японии
Каталог
MITUTOYO
2017
Инструмент
измерительный
и приборы
(633 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 Измерительный инструмент метрологическое оборудование и контрольно-измерительные приборы
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
(664 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 Измерительный инструмент и оборудование для контроля и измерений в машиностроении Издание GB-20001
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
GB-20001
(англ. яз.)
(663 страницы)
Каталог MITUTOYO 2015 US-1003 Измерительный инструмент и контрольно-измерительное оборудование и приборы для машиностроения
Каталог
MITUTOYO
2015
Измерительный
инструмент
US-1003
(англ. яз.)
(561 страница)
Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент Контрольно-измерительные приборы и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2014
Инструмент
и приборы
(660 страниц)
Каталог MITUTOYO 2013 Измерительный инструмент и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2013
Измерительный
инструмент и
оборудование
(675 страниц)
Каталог MITUTOYO 2012 Контрольно-измерительный инструмент оборудование и приборы для машиностроения
Каталог
MITUTOYO
2012
Инструмент
и оборудование
(654 страницы)
Каталог MITUTOYO 2011 Средства измерений Мерительные инструменты и контрольно-измерительное оборудование Издание GB-16001
Каталог
MITUTOYO
2011
Мерительные
инструменты
GB-16001
(англ. яз.)
(666 страниц)
Каталог MITUTOYO 2009 Средства измерений измерительный инструмент и приборы
Каталог
MITUTOYO
2009
Средства
измерений
(413 страниц)
Каталог MITUTOYO 2007 Средства измерений Измерительные инструменты приборы оборудование для машиностроения и промышленности
Каталог
MITUTOYO
2007
Средства
измерений
(398 страниц)
Каталог MITUTOYO 2003 Измерительные инструменты приборы и оборудование
Каталог
MITUTOYO
2003
Измерительные
инструменты
(англ. яз.)
(492 страницы)





Каталоги измерительного инструмента и оборудования /
Measuring instruments and equipment catalogs



Каталог MITUTOYO 2014 Инструмент и приборы (Всего 660 стр.)

472 Измерительные микроскопы Mitutoyo Hyper MF MF-U поколения B Серия 176 имеют одну из самых высоких точностей измерения по XY (09+3L 1000)1 мкм Микроскопы Hyper M Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент и приборы Стр. 470472 473 Измерительные микроскопы Mitutoyo Hyper MF MF-U поколения B Опциональные аксессуары Описание 264-149D Вычислительный блок QM-Data 200 для Hyper MF MF-U Смотри а Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент и приборы Стр. 471473 474 Видеосистема Mitutoyo Vision Unit Серия 359 предназначена для модернизации измерительных микроскопов и позволяет в один шаг распознать кромки с помощью специаль Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент и приборы Стр. 472474 476 Увеличение Отношение размера увеличенного изображения предмета созданного оптической системой размеру предмета Увеличение обычно относится линейному увеличению Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент и приборы Стр. 474476 477 Микроскопный блок Mitutoyo серии FS70 Спецификация Регулировка фокуса Метод с помощью концентрических маховиков грубой и плавной фокусировки справа и слева Диап Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент и приборы Стр. 475477 478 Видеомикроскопный блок Mitutoyo серии VMU Серия 378 VMU компактный легкий простой в установке микроскопный блок для мониторинга на полупроводниковых производств Каталог MITUTOYO 2014 Измерительный инструмент и приборы Стр. 476478



---

---






Lab2U |  Catalogs |  Tap drill sizes |  Speed to RPM |  Material table

Разработчики сайта / Developers of site



Поиск на сайте Lab2u.ru с помощью поисковых систем ЯНДЕКС, BING, GOOGLE:



Все использованные информационные материалы являются собственностью их Уважаемых Владельцев. / All copyrights remain by their owners.


Если Вы являетесь правообладателем того или иного материала, размещенного на сайте lab2u.ru и не желаете, чтобы он и далее находился в свободном доступе,
то мы готовы удалить данный материал, а также обсудить условия предоставления данного контента пользователям. Для этого Вам необходимо отправить нам письмо
на e-mail prom@lab2u.ru с документальным подтверждением наличия у Вас прав на материал, защищённый авторским правом (отсканированный документ с печатью,
либо иная информация, позволяющая однозначно идентифицировать Вас как правообладателя данного материала).


© 2002 - 2026 Лаборатория 2У / Lab2U  |  Система "Промышленные каталоги" / Industrial catalogs   |   Яндекс.Метрика   |  Стр. / Page Lab2U1508590973
На забудьте добавить в закладки