484 Каталог MAHR 2015 Инструмент Приборы Оборудование для измерений и контроля DEU Стр.15-24

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MarSurf. Oberflachenmessgerate MarSurf WM 100 Beschreibung Das hochprazise optische Messgerat MarSurf WM 100 mit Sub-Nanome-ter-Auflosung und Messgenauigkeit. Ein 3D-Wei lichtinterferometer-Mess-system. Hochste prazision mit sub-Nanometer-auflosung und Me genauigkeit Universelle Eignung fur optische und spiegelnde Oberflachen feine technische Oberflachen sowie Oberflachen von Leiterkarten und Halbleiterprodukten sowie biologischen Geweben 2D-Oberflachenanalyse und Messauswertungen Topografische 3D-Oberflachenanalyse und Messwertauswertungen schnelle Messungen - kurze Messzeiten Manuelle Tisch- bzw. Objektpositionierung in bis zu 4 achsen gro e auswahl an Objektiven ermoglicht eine ideale anpassung an das Messobjekt stabiler aufbau mit Granit-Basisplatte professionelle auswertesoftware auf basis von MountainsMap Lieferumfang sensorik bestehend aus - WLi sensorkopf - Kamera 768x582 Pixel bis 48 Bilder s - 100 m Z-achse mit Piezotrieb - WLi softwaremodul software inspector Granitbasis und saule mit manueller Z-Positionierung der sensorik Manueller XY-Objekttisch zur Probenpositionierung Objektiv 20x04 Di (Wei lichtinterferometer) Technische Daten WM 100 Messprinzip Interferometrisch Wei licht-interferometrisch Lichtquelle (WLI) Hochleistungs-LED 505 nm Messbereich sensoreinheit uber 200 mm manuell in Z verfahrbar Objekttisch in X und Y manuell verfahrbar Interferometer Wei lichtinterferometer Messbereich (WLI) Bis zu 100 m (vertikal) Zubehor Kipptisch CT 120 zweiachsig Winkel-Einstelltisch -30 Normalen-set Anwendungen Maschinenbau Feine metallische Oberflachen aller art (geschliffen gewalzt usw.) auch laserstrukturierte Oberflachen feine keramische und Kunststoff-Oberflachen Oberflachen von Gussformen Wei lichtinterferometer WLi Objektive 25x0075; 5x013; 10x03; 20x04; 50x055; 100x07 Optional Mit aktiver schwingungsdampfung fur bestmogliche Vibrationsdampfung zur Messung im Nanometer und subnanometerbereich Medizin Metallische keramische und Kunsstoff-Oberflachen an implantaten Prothesen und instrumenten Elektronik Oberflachenanalyse von Beschichtungen Messung und analyse von Elektronik- und Halbleiter-Bauelementen Optik Rauigkeitsanalyse diverser Optikkomponenten (alle Werkstoffe) Weitere informationen finden sie auf unserer Website Mahr